大多數(shù)的布料衰減時(shí)間都能達(dá)到0.5秒以下，具體的要求根據(jù)不同的客戶而定。
▲ 潔凈度測(cè)試
滾桶測(cè)試（HELMKEDRUMTEST）
該測(cè)試是由美國(guó)人HELMKE發(fā)明的，所以也叫HELMKEDRUMTEST。該標(biāo)準(zhǔn)被收錄在IEST-CC-RP003.3（美國(guó)環(huán)境與科學(xué)技術(shù)協(xié)會(huì)標(biāo)準(zhǔn)之工衣系統(tǒng)）。
*測(cè)試原理，該測(cè)試是模擬人員穿上無(wú)塵衣后工作時(shí)不同狀態(tài)（如走動(dòng)、身體的不停轉(zhuǎn)動(dòng)等），看其跌落多少塵粒。
滾筒測(cè)試
*測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)，根據(jù)IEST-RP—CC003.3標(biāo)準(zhǔn)，不同級(jí)別的無(wú)塵衣標(biāo)準(zhǔn)也不同，請(qǐng)參考附錄圖表。
LPC測(cè)試（液態(tài)塵粒測(cè)試）
該測(cè)試是對(duì)清洗后的工衣進(jìn)行塵粒測(cè)試的一個(gè)濟(jì)準(zhǔn)確的測(cè)試，一般具有權(quán)威性。
*測(cè)試方法，該測(cè)試是將工衣的布料（一般取樣一小塊，計(jì)算出面積）放入DI水中，然后經(jīng)過(guò)超聲波振蕩一定時(shí)間，測(cè)試出DI水中的各個(gè)粒徑的粒子含量，濟(jì)后同原樣DI水進(jìn)行對(duì)比，以得出布料的測(cè)試結(jié)果。
LPC測(cè)試
*測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)，磁頭行業(yè)，一般要求對(duì)于0.5um的粒子來(lái)說(shuō)，不能超過(guò)3000個(gè)/平方厘米。有些行業(yè)如晶圓，要求會(huì)更嚴(yán)格。
▲ 過(guò)濾性測(cè)試
過(guò)濾性測(cè)試是測(cè)試布料過(guò)濾塵粒的能力。
IEST-RP-CC003.3對(duì)過(guò)濾效率的測(cè)試做了規(guī)定，方法是在一定壓力下，通過(guò)潔凈服面料抽取空氣，用空氣微粒計(jì)數(shù)器測(cè)試加載布料前后的塵粒數(shù)，其微粒數(shù)對(duì)比的結(jié)果顯示了面料阻攔粒子的能力。
布粒的過(guò)濾性=1－（加布前的塵粒度平均值/加布后的塵粒度平均值）×100%
*測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)，一般磁頭及半導(dǎo)體行業(yè)對(duì)工衣的過(guò)濾性要求較高，為65%--85%。
▲其它微觀測(cè)試
在無(wú)塵清洗行業(yè)，除了進(jìn)行潔凈度測(cè)試外，根據(jù)客戶的要求，還需要進(jìn)行如離子測(cè)試（IC）、傅立葉紅外線光譜測(cè)試（FTIR）、非揮發(fā)性殘留物測(cè)試（NVR）等等微觀方面的測(cè)試。
▲導(dǎo)電纖維顯微鏡檢查
由于工衣在使用過(guò)程中布料會(huì)和工作臺(tái)面磨擦以及遇到不同的力度拉伸等情況，所以有很大機(jī)會(huì)破壞導(dǎo)電絲，如斷裂、破損等。這樣就會(huì)導(dǎo)致衣服的ESD性能變差。
*測(cè)試方法，使用放大倍數(shù)濟(jì)少20倍或以上的電子顯微鏡，觀察其布料的導(dǎo)電絲是否有斷裂、破損等情況。
布料顯微鏡檢查
